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      J.A.Woollam公司于1987年由Woollam教授等創辦。公司是由內布拉斯加州立大學的科研成果為基礎衍生而來的專業生產光譜型橢圓偏振測量儀的廠商,公司研發、生產多種不同規格型號的橢偏儀,沒有與橢偏儀無關的產品。
     J.A.Woollam公司擁有超過100項的橢偏專利技術,確保公司的技術一直處于領先地位。已有2000多套橢圓儀已被安裝到世界各地,廣泛應用于各種領域的科研與生產當中。
     專業的應用團隊為用戶提供一流的技術支持,從硬件到軟件,從樣品制備到建模分析,我們都會有最佳的建議帶給用戶。

光譜型橢偏儀
J.A.Woollam的光譜橢偏儀是一種用于探測薄膜厚度、光學常數以及材料微結構特性的光學測量設備。可測的樣品包括大塊材料、薄膜以及在平面基底上生長或沉積的多層結構。多層固體、液體、與固體相鄰的液體以及與固體接觸的氣相等離子體的特性等都可以用這一技術來探測。
橢偏儀應用
光譜橢偏儀是一種用于探測薄膜厚度、光學常數以及材料微結構特性的光學測量設備。可測的樣品包括大塊材料、薄膜以及在平面基底上生長或沉積的多層結構。多層固體、液體、與固體相鄰的液體以及與固體接觸的氣相等離子體的特性等都可以用這一技術來探測。由于與樣品非接觸,對樣品沒有破壞并且
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